ParticleX - Automated SEM
Phenom Perception GSR
총기 잔여물 분석(GSR)은 총기가 범죄에 사용된 시기를 판단하는 데 중요한 역할을 합니다. 샘플을 스캔하고 의심되는 GSR 입자를 찾는 데 사용되는 주사 전자 현미경(SEM)입니다. 의심되는 입자가 발견되면 에너지 분산 분광법(EDS)을 사용하여 해당 입자의 화학적 조성을 식별합니다. 가장 일반적인 검색 기준은 Pb, Sb 및 Ba의 존재입니다. 그러나 Ti 및 Zn과 같은 뮤연 프라이머리 원소의 검출도 요구 사항입니다. Phenom Perception GSR Desktop SEM은 자동화된 GSR 분석을 실행할 수 있는 세계 최초의 전용 데스크탑 SEM입니다. Thermo Scientific Phenom XL G2 Desktop SEM을 기반으로 합니다. 소프트웨어와 하드웨어가 완전히 통합되어 사용자 친화성, 신뢰성 및 분석 속도를 향상시킵니다.
문의하기Superb Image Quality
Phenom SEM에 적용된 CeB 6 소스는 기존 텅스텐 SEM 소스보다 훨씬 더 밝고 오래 더 강한 빔을 생성합니다. 즉, 간편하게 선명한 이미지를 얻을 수 있습니다.
No User Maintenance
Phenom SEM은 사용 후 빔을 대기 상태로 유지 가능합니다. 사용할 때만 빔을 켜두어 전자총의 수명을 효율적으로 사용합니다. 텅스텐 기반 SEM과 달리 소스를 자주 변경할 필요가 없습니다. 한 번의 유지 관리로 몇 년 동안 사용합니다.
Ease of Use
Phenom SEM은 전자 이미지와 정확하게 연동된 전동식 스테이지 및 광학 스테이지 카메라로 정밀한 탐색 기능을 제공합니다.
Vibration Insensitivity
Phenom SEM은 진동에 둔감한 유일한 SEM입니다. 시끄러운 환경에서 사용할 수 있으며 특수 테이블이나 진동 차단 플랫폼이 필요하지 않습니다.
Speed to Image
샘플을 SEM에 로딩하고 30초 만에 라이브 SEM 이미지를 얻습니다. Phenom SEM은 혁신적인 로드락 스테이지 설계 덕분에 가장 빠른 로딩 시간을 가진 SEM입니다.
Low-Vacuum Mode
내장된 저진공 모드를 사용하여 추가 샘플 준비 또는 금 코팅 없이 비전도성 샘플을 이미지화합니다. 특별한 디텍터나 추가 비용이 필요하지 않습니다.
Easy Upgrade Path
옵션 소프트웨어 패키지 제품군을 사용하면 다양한 애플리케이션을 위한 자동화된 이미지 수집 및 처리가 가능합니다. 모든 Phenom SEM에는 자동 이미지 스티칭이 포함되어 있습니다.
Large Sample Holders
Phenom XL 제품은 대형 시료, 다수의 시료를 한 번에 분석하기 위해 대형 홀더를 사용합니다.
Phenom Perception GSR Software
Perception GSR 소프트웨어를 사용하면 개별 실험실에서 표준 작동 절차(SOP)를 기반으로 맞춤형 레시피를 쉽게 생성할 수 있습니다. 표준 빌딩 블록 레시피 인터페이스를 기반으로 하는 데이터 수집은 신뢰할 수 있고 반복 가능한 결과로 입자 위치 및 EDS 분석을 위해 완전히 자동화될 수 있습니다.
- 직관적인 사용자 인터페이스
- ASTM E1588-17 준수
- Plano 인공 GSR 샘플의 적중률 ≤ 98%
- ENFSI Est Practice 지침 2006 준수
- 유연한 사용자 정의 템플릿을 통한 광범위한 보고 기능
- 입자의 수동 재방문 및 검증 지원
| Models & Specification | ||||
|---|---|---|---|---|
| Items |  |
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| Model | Phenom PaticleX AM | Phenom PaticleX TC | Phenom Perception GSR | Phenom ParticleX Battery |
| Electron Source | CeB6 crystal | CeB6 crystal | CeB6 crystal | CeB6 crystal |
| Max. Magnification | x200,000 | x200,000 | x200,000 | x200,000 |
| Resolution | 10nm SE 10nm BSE |
10nm SE 10nm BSE |
10nm SE 10nm BSE |
10nm SE 10nm BSE |
| Acceleration Voltages | 5~20 kV | 5~20 kV | 5~20 kV | 5~20 kV |
| Sample loading time | Light optical ＜5s Electon optical ＜60s |
Light optical ＜5s Electon optical ＜60s |
Light optical ＜5s Electon optical ＜60s |
Light optical ＜5s Electon optical ＜60s |
| Navigation Camera | ||||
| Motorized Stage | ||||
| Vacuum Options | High and Low vacuum sample holders (software selectable) |
High and Low vacuum sample holders (software selectable) |
High and Low vacuum sample holders (software selectable) |
High and Low vacuum sample holders (software selectable) |
| Sample Handling | Up to 36 pin stubs 100mm×100mm |
Up to 36 pin stubs 100mm×100mm |
Up to 36 pin stubs 100mm×100mm |
Up to 36 pin stubs 100mm×100mm |
| Detectors | BSE (Standard) SEM (Optional) EDS (Optional) |
BSE (Standard) SEM (Optional) EDS (Optional) |
BSE (Standard) SEM (Optional) EDS (Optional) |
BSE (Standard) SEM (Optional) EDS (Optional) |
| Dimensions (mm) | 286(W)×566(D)×495(H) | 286(W)×566(D)×495(H) | 286(W)×566(D)×495(H) | 286(W)×566(D)×495(H) |
| Shipping Weight | 42 kg | 42 kg | 42 kg | 42 kg |
| Classification reference | Automated Classification | Technical Cleanness | Gun shot residue | Battery Classification |
