ParticleX - Automated SEM
Phenom ParticleX Battery
배터리 생산 및 연구에서 재료의 품질이 중요해지고 있습니다. NCM 분말의 작은 오염 물질은 최종 제품에 치명적인 결과를 초래할 수 있습니다. 이러한 오염 물질을 효과적으로 추적하려면 화학용 EDS 분석을 사용한 고해상도 SEM 이미징이 필요합니다. 완전히 자동화된 경우 이 조합은 분말 품질 검사를 위한 강력한 도구입니다.
문의하기Superb Image Quality
Phenom SEM에 적용된 CeB 6 소스는 기존 텅스텐 SEM 소스보다 훨씬 더 밝고 오래 더 강한 빔을 생성합니다. 즉, 간편하게 선명한 이미지를 얻을 수 있습니다.
No User Maintenance
Phenom SEM은 사용 후 빔을 대기 상태로 유지 가능합니다. 사용할 때만 빔을 켜두어 전자총의 수명을 효율적으로 사용합니다. 텅스텐 기반 SEM과 달리 소스를 자주 변경할 필요가 없습니다. 한 번의 유지 관리로 몇 년 동안 사용합니다.
Ease of Use
Phenom SEM은 전자 이미지와 정확하게 연동된 전동식 스테이지 및 광학 스테이지 카메라로 정밀한 탐색 기능을 제공합니다.
Vibration Insensitivity
Phenom SEM은 진동에 둔감한 유일한 SEM입니다. 시끄러운 환경에서 사용할 수 있으며 특수 테이블이나 진동 차단 플랫폼이 필요하지 않습니다.
Speed to Image
샘플을 SEM에 로딩하고 30초 만에 라이브 SEM 이미지를 얻습니다. Phenom SEM은 혁신적인 로드락 스테이지 설계 덕분에 가장 빠른 로딩 시간을 가진 SEM입니다.
Low-Vacuum Mode
내장된 저진공 모드를 사용하여 추가 샘플 준비 또는 금 코팅 없이 비전도성 샘플을 이미지화합니다. 특별한 디텍터나 추가 비용이 필요하지 않습니다.
Easy Upgrade Path
옵션 소프트웨어 패키지 제품군을 사용하면 다양한 애플리케이션을 위한 자동화된 이미지 수집 및 처리가 가능합니다. 모든 Phenom SEM에는 자동 이미지 스티칭이 포함되어 있습니다.
Large Sample Holders
Phenom XL 제품은 대형 시료, 다수의 시료를 한 번에 분석하기 위해 대형 홀더를 사용합니다.
Contaminants detection
가장 일반적인 비율은 8:1:1(Ni 8개, Co 1개 및 Mn 1개)입니다. 분말의 입자 크기와 정확한 화학적 성질은 최종 배터리 성능에 영향을 미치지만, 단일 금속 입자가 배터리에 치명적인 결과를 초래할 수 있기 때문에 더욱 중요한 것은 분말의 오염입니다. 이러한 오염을 찾아내고 그것들을 분류하는 것은 건초 더미에서 바늘을 찾는 것과 같습니다.
자동화된 SEM EDS 분석은 이 문제를 해결하는 데 도움이 됩니다. 임계값이 높게 설정되면 오염 물질만 신속하게 찾고 입자의 화학적 성질과 크기를 보고합니다. 또한, 일반 분말의 구성이 관심 있는 경우 많은 NCM 입자를 자동으로 분석하여 수행할 수도 있습니다.
- Monitoring of powder purity and environmental cleanliness level in the production floor
생산 현장에서 NCM 파우더 분말의 순도 및 환경 청정도를 실시간으로 모니터링 할 수 있습니다.
| Models & Specification | ||||
|---|---|---|---|---|
| Items |  |
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| Model | Phenom PaticleX AM | Phenom PaticleX TC | Phenom Perception GSR | Phenom ParticleX Battery |
| Electron Source | CeB6 crystal | CeB6 crystal | CeB6 crystal | CeB6 crystal |
| Max. Magnification | x200,000 | x200,000 | x200,000 | x200,000 |
| Resolution | 10nm SE 10nm BSE |
10nm SE 10nm BSE |
10nm SE 10nm BSE |
10nm SE 10nm BSE |
| Acceleration Voltages | 5~20 kV | 5~20 kV | 5~20 kV | 5~20 kV |
| Sample loading time | Light optical ＜5s Electon optical ＜60s |
Light optical ＜5s Electon optical ＜60s |
Light optical ＜5s Electon optical ＜60s |
Light optical ＜5s Electon optical ＜60s |
| Navigation Camera | ||||
| Motorized Stage | ||||
| Vacuum Options | High and Low vacuum sample holders (software selectable) |
High and Low vacuum sample holders (software selectable) |
High and Low vacuum sample holders (software selectable) |
High and Low vacuum sample holders (software selectable) |
| Sample Handling | Up to 36 pin stubs 100mm×100mm |
Up to 36 pin stubs 100mm×100mm |
Up to 36 pin stubs 100mm×100mm |
Up to 36 pin stubs 100mm×100mm |
| Detectors | BSE (Standard) SEM (Optional) EDS (Optional) |
BSE (Standard) SEM (Optional) EDS (Optional) |
BSE (Standard) SEM (Optional) EDS (Optional) |
BSE (Standard) SEM (Optional) EDS (Optional) |
| Dimensions (mm) | 286(W)×566(D)×495(H) | 286(W)×566(D)×495(H) | 286(W)×566(D)×495(H) | 286(W)×566(D)×495(H) |
| Shipping Weight | 42 kg | 42 kg | 42 kg | 42 kg |
| Classification reference | Automated Classification | Technical Cleanness | Gun shot residue | Battery Classification |
