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GSEM 아카데미, Phenom ParticleX-Perception 세미나

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작성자 한국입자분석연구소 댓글 0건 조회 767회 작성일 24-04-29 16:27

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2024년 4월 11일, 한국입자분석연구소는 'Phenom ParticleX를 이용한 파티클 자동분석 솔루션' 세미나를 성공적으로 개최하였습니다. 이 세미나는 파티클 분석 기술의 최신 동향과 응용 사례를 공유하기 위해 마련되었으며, 분석 기술자, 연구원, 산업계 전문가들이 참석하였습니다.

Phenom ParticleX는 고해상도의 이미징 및 자동화된 데이터 분석 능력을 갖춘 최신 파티클 분석 장비로, 특히 제약, 전자재료, 첨단 산업 분야에서 뛰어난 성능을 발휘합니다. 세미나에서는 이 장비의 운용 방법과 기술적 특징을 상세히 설명하고, 다양한 실제 적용 사례를 통해 그 유용성을 입증하였습니다.

한국입자분석연구소의 고책임은 "이번 세미나를 통해 참가자들이 최신 파티클 분석 기술을 이해하고, 자신들의 연구 및 실무에 적용할 수 있는 인사이트를 얻는 데 도움이 되었다고 생각한다"고 말했습니다.

또한, 한국입자분석연구소는 오는 8월에 'XRD 분석 기법'에 관한 또 다른 세미나를 GSEM에서 개최할 예정입니다. 이 세미나는 XRD(엑스선 회절) 기술의 기본 원리와 실제 적용 방안, 최신 기술 동향 등을 다루며, 분석 기술의 깊이를 더할 것입니다.

한국입자분석연구소는 앞으로도 첨단 분석 기술의 발전을 위해 다양한 교육 프로그램과 세미나를 지속적으로 제공할 계획입니다. 분석 기술에 관심 있는 모든 분들의 많은 참여를 기대합니다.